奈米粒徑分析儀暨界面電位分析儀

攤位號碼：N1105

產品特色

日本大塚科技股份有限公司不僅提供光電產業、半導體、平面液晶顯示器及材料的顆粒光學量測檢查設備，更希望透過優異的品質樹立業界的標準。目前，除了各國光電產業技術領先的製造大廠皆已導入大塚的產品以外，更成立了台灣大塚科技，落實日本原廠與辛耘間之溝通體制，以服務廣大的客戶族群。台灣大塚科技與辛耘集合各領域的專業人才，並規劃組織業務、客服、支援部門以提供顧客更趨完善的服務品質。

1. 奈米粒徑分析儀暨界面電位分析儀 ELSZ-2000 Series
2. 多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA

1. 奈米粒徑分析儀暨界面電位分析儀 ELSZ-2000 Series特點
# 通過最新型的高感度APD提高感光度，成功縮短量測時間
# 搭載自動溫度梯度測量功能，可分析變性、相變溫度
# 新增大範圍分子量測定及解析功能(SLS法)
# 可量測0 ~ 90℃ 寬闊的溫度範圍
# 使用動態電泳光散射法量測膠體粒子的分散凝集性、交互作用、表面改質等指標性的Zeta電位及粒徑大小與粒徑分佈
# 除保有低濃度溶液量測功能，更強化了量測濃溶液中的Zeta電位和粒徑大小、粒徑分佈的能力
# 粒徑範圍0.6nm～10μm，濃度範圍0.00001%～40%
# 實際量測電滲流（Electroosmotic flow），具備高度可靠性的Zeta電位量測能力
# 搭配平板樣品容器（選配），可對應平面或薄膜狀樣品量測
# 支援低介電常數樣品容器（選配）
# 支援業界最微量的(130μl～)可拋式樣品容器
# 對應小尺寸樣本平板Zeta電位量測

2. 多檢體奈米粒徑量測系統 nanoSAQLA 特點
# 一台5檢體輕鬆連續量測
# 一鍵測定簡易功能
# 對應低濃度到高濃度
# 標準測定時間一分高速測定
# 非浸入式、非分注式連續量測
# 搭載溫度梯度(0 ~ 90℃)

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