瑞典Biolin : QCM-D 石英晶體微天平(耗散式)

 

產品型號：QCM-D

產品分類：製藥與開發

廠商名稱：富智科技股份有限公司

攤位號碼：M1103

 

產品特色

 

QSense QCM-D ，是耗散型石英晶體微天平的簡稱，適用於稱量極小質量的物質的天平。 QCM 是一種從 60年代沿用至今的用於測量真空或氣相中表面質量變化的技術。 QCM 技術可以即時測量晶片表面上吸附或損失的質量，因此非常適合測量諸如電子半導體裝置或光學薄膜等薄膜沉積過程中膜的形成速率以及厚度。

監測分子表面交互作用以及感測器表面形成的層的特性，可以奈米級分辨率檢測感測器表面的質量變化。
收集的資料可以對所研究的系統進行表徵，可以回答的問題例如：
是否存在分子-表面交互作用？ 可以檢測和監測分子層的構象變化，例如膨脹、交聯和塌陷、降解和蝕刻。
有多少材料吸附/解吸或結合？
這個過程有多快？
也可以提供有關所形成層的質量、厚度和粘彈性質的定量信息。這使得研究分子吸附、解吸和結合以及層退化和蝕刻成為可能。

QCM的應用範例:
研究脂質表面相互作用動力學
區分不同的結構
分析生物分子表面交互作用
聚合物研究

https://www.biolinscientific.com/measurements/qcm-d

 

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